DTA-1550差热分析仪主要测量与热量有关的物理、化学变化,如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性(氧化诱导期)、玻璃化转变温度、氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
型号:
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更新时间:2024-11-17
在线留言品牌 | MIY/米远电气 | 产地类别 | 国产 |
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类型 | 其他 | 应用领域 | 建材,电子,电气 |
DTA-1550差热分析仪
仪器简介:
DTA-1550差热分析仪是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。
主要测量与热量有关的物理、化学变化,如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性(氧化诱导期)、玻璃化转变温度、氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
技术参数:
1.
温度范围: 室温~1550℃
2.
量程范围: 0~±2000μV
3.
升温速率: 0.1~80℃/min
4.
温度分辨率: 0.01℃
5.
温度重复性: ±0.1℃
6. DTA
精度: 0.01μV
7.
控温方式: 升温:程序控制 可根据需要进行参数的调整
恒温:程序控制 恒温时间任意设定
8.
曲线扫描: 升温扫描
9.
气氛控制: 仪器自动切换 10. 11. 12. 13. 14. 15. 16.
主要特点:
1.
全新全封闭式高级陶瓷炉体设计结构,大大提升灵敏度和分辨率以及更好的基线稳定性。
2.
采用进口合金传感器,更抗腐蚀,抗氧化,传感器灵敏度高。
3.
采用Cortex-M3内核ARM控制器,运算处理速度更快,温度控制更精确。
4.
采用USB双向通讯,实现智能化操作。
5.
采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,实时显示仪器的状态和数据。
6.
智能化软件设计,仪器全程自动绘图,软件可实现各种数据处理,如热焓的计算、玻璃化转变温度、氧化诱导期、物质的熔点及结晶等等。
参考标准:
GB/T 19466.2
– 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分:玻璃化转变温度的测定;
GB/T 19466.3
– 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分:熔融和结晶温度及热焓的测定;
GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999
第6部分氧化诱导期 氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度(动要态OIT)的测定。
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